标准详细信息

标准简介

标准适应范围：
本标准规定了在电子激发绝缘样品的俄歇电子能谱测量中，描述荷电控制方法所需的最少信息，该信息也一并报告在分析结果中。参见附录A提供的现有的AES分析前或分析期间荷电控制的有用方法。表A.1对各种方法和途径进行了总结，并依方法的简单性排列。表A.1中的一些方法对大多数仪器是可用的，一部分则需要特殊的硬件，还有部分可能涉及样品的重装或变动。

表面化学分析　俄歇电子能谱　荷电控制与校正方法报告的规范要求

标准编号：GB/T 32998-2016 标准状态：现行在线阅读

基本信息

标准号：GB/T 32998-2016
标准名称：表面化学分析　俄歇电子能谱　荷电控制与校正方法报告的规范要求
英文名称：Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction
标准状态：现行
发布日期：2016-10-13
实施日期：2017-09-01
出版语种：中文简体

标准分类号

标准ICS号：71.040.40
中标分类号：G04

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准： ISO 17973, ISO 17974, ISO 18115,
采用标准：ISO 29081:2010
采标名称：《表面化学分析　俄歇电子能谱　荷电控制与校正方法报告的规范要求》
采标程度：IDT

出版信息

页数：28 页
字数：45 千字
开本：大16开
版次：1
彩页数：0
插页数：IDT
有无电子版：1
有无彩色图片：0
纸质版出版日期：2016-11-01

标准修订信息

有无修改单：0
修改单备注：

其他信息

标准类型：CN
标准属性：GB
标准编号：32998
起草人：张增明、丁泽军、毛世峰、曾荣光、达博、张鹏、阮瞩、唐涛
起草单位：中国科学技术大学物理学院
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
提出部门：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

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表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求

表面化学分析　俄歇电子能谱　荷电控制与校正方法报告的规范要求